Спектрорадиометры серии OL 770

Универсальная спектрофотоколориметрическая (спекторадиометрическая) система OL 770 для измерения LED (СИД), ламп, светильников и т.д.  с тремя различными диапазонами, в совокупности перекрывающими диапазон длин волн от УФ до ближнего ИК: 200-1100 нм. Установки могут быть снабжены одной, двумя или несколькими интегрирующими сферами, диаметром 6, 18 и более дюймов, прецизионным блоком постоянного и импульсного питания, а также широким набором сменных оптических блоков, включая гониометрическую систему и камеру для измерения осевой силы излучения, сменных фильтров для расширения динамического диапазона, и т.д. Развитое программное обеспечение позволяет проводить измерения и расчет всех основных характеристик светодиодов за несколько секунд.  

Типовые возможности ПО включают:  

•  спектральный состав излучения (абсолютная плотность излучения [Вт/см2·нм] с одновременным вычислением пиковой (peak), центральной (central), центройдной (centroid) длин волн [нм], а также полуширины (FWHM) спектра [нм];  
• прямой ток [А], прямое падение напряжение [В], входная электрическая мощность [Вт], 
• выходной поток (мощность) излучения [Вт], с вычислением полного кпд; 
• сила излучения[Вт/ср]; 
• угловое распределение силы излучения[Вт/ср];  

На основе спектрорадиометрических измерений вычисляются и выводятся на дисплей: 

•  координаты цветности x,y; u,v: u’v’ ; 
•  цветовая температура [K]; 
•  доминантная длина волны излучения [нм],; 
• насыщенность цвета; 
• общий и специальные индексы цветопередачи; 
• световой поток [лм]; 
• сила света [кд]; 
• угловое распределение силы света 
• люмен-эквивалент [лм/Вт] 
• световая эффективность (световая отдача) [лм/Вт]  

 При проведении измерений обеспечивается прецизионный контроль температуры корпуса и окружающей среды, а также входного тока и напряжения. Возможно развертывание по току и получение соответствующих зависимостей светового потока, спектрального распределения и других параметров от тока.  

Входящие в состав комплекса сменные блоки позволяют также проводить измерения оптических характеристик материалов, используемых в конструкциях светодиодов и источников света (полупроводниковые слои, контактные и отражающие покрытия, полимерные покрытия): спектральные и угловые зависимости коэффициентов отражения, пропускания и рассеяния, а также их интегральные значения в телесном угле 2π ср.  

Прибор имеет калибровочные сертификаты, выполненные по эталонам NIST, методики измерений аттестованы во ВНИИОФИ.