Универсальная спектрофотоколориметрическая (спекторадиометрическая) система OL 770 для измерения LED (СИД), ламп, светильников и т.д. с тремя различными диапазонами, в совокупности перекрывающими диапазон длин волн от УФ до ближнего ИК: 200-1100 нм. Установки могут быть снабжены одной, двумя или несколькими интегрирующими сферами, диаметром 6, 18 и более дюймов, прецизионным блоком постоянного и импульсного питания, а также широким набором сменных оптических блоков, включая гониометрическую систему и камеру для измерения осевой силы излучения, сменных фильтров для расширения динамического диапазона, и т.д. Развитое программное обеспечение позволяет проводить измерения и расчет всех основных характеристик светодиодов за несколько секунд.
Типовые возможности ПО включают:
- спектральный состав излучения (абсолютная плотность излучения [Вт/см2·нм] с одновременным вычислением пиковой (peak), центральной (central), центройдной (centroid) длин волн [нм], а также полуширины (FWHM) спектра [нм];
- прямой ток [А], прямое падение напряжение [В], входная электрическая мощность [Вт],
- выходной поток (мощность) излучения [Вт], с вычислением полного кпд;
- сила излучения[Вт/ср];
- угловое распределение силы излучения[Вт/ср];
На основе спектрорадиометрических измерений вычисляются и выводятся на дисплей:
- координаты цветности x,y; u,v: u’v’ ;
- цветовая температура [K];
- доминантная длина волны излучения [нм],;
- насыщенность цвета;
- общий и специальные индексы цветопередачи;
- световой поток [лм];
- сила света [кд];
- угловое распределение силы света
- люмен-эквивалент [лм/Вт]
- световая эффективность (световая отдача) [лм/Вт]
При проведении измерений обеспечивается прецизионный контроль температуры корпуса и окружающей среды, а также входного тока и напряжения. Возможно развертывание по току и получение соответствующих зависимостей светового потока, спектрального распределения и других параметров от тока.
Входящие в состав комплекса сменные блоки позволяют также проводить измерения оптических характеристик материалов, используемых в конструкциях светодиодов и источников света (полупроводниковые слои, контактные и отражающие покрытия, полимерные покрытия): спектральные и угловые зависимости коэффициентов отражения, пропускания и рассеяния, а также их интегральные значения в телесном угле 2π ср.
Прибор имеет калибровочные сертификаты, выполненные по эталонам NIST, методики измерений аттестованы во ВНИИОФИ.
Тип файла | Информация о файле |
![]() |
OL770.pdf Размер файла 733.01KB Загружено: 131 |